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德國菲希爾X射線熒光分析儀XDV-µ

XDV-μ型系列儀器是專為在很微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60μm。短時間內就可形成高強度聚焦射線。

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FISCHERSCOPE ® X-RAY XDAL X射線熒光測量儀

要檢查的層越薄，檢測器的選擇就越重要。 FISCHERSCOPE?X-RAY XDAL?系列包含幾個不同的模型。 PIN檢測器可用于材料分析和涂層厚度測量。 如果需要超高精度分析，則硅漂移檢測器是很好的選擇。

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X-RAY 5000德國菲希爾合金分析/鍍層測量儀

X-RAY 5000 系列儀器采用模塊化設計，可輕松集成到生產線中。例如，當必須測量大尺寸底材（如錫板）上的鍍層時，X-RAY 5000 堪稱理想解決方案。根據底材和鍍層材料的不同，客戶可按需求選配X射線源、探測器以及基本濾片。

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